纳米粒度电位仪
型号：SZ-100
制造商：日本 HORIBA
主要功能：通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。
技术指标：测量范围：0.3nm-8μm；测量精度：±2%；测量时间：约2分钟 (一般测量)；固体激光器DPSS 532nm 10mW；粒径检测双角度：90°&173°。
